ICS 31.200 L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T 35007—2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry 2018-08-01实施 2018-03-15发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 35007—2018 目 次 前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 总则 4.1测试环境要求 4.2 测试注意事项 5静态参数测试 5.1 单端数字接口参数 5.2 输人高电平阈值电压（VTH） 5.3 输入低电平阈值电压（VTL） 5.4 输入电流（IIN） 5.5 电源关断输入漏电流（IIN-OFF） 5.6 输出LVDS高电压（VoHL） 5.7 输出LVDS低电压（VoL) 5.8 共模输出电压(Vos 5.9 互补态共模输出电压变化（△Vos） 5.10 差分输出电压（Vop) 5.11 互补态差分输出电压变化（△VoD） 5.12 LVDS输出短路电流（IosL）· 10 5.13 电源关断输出漏电流（Io-OFF） 11 5.14 LVDS输出高阻态电流IozL）. 5.15 内置差分输人电阻（Rr）· 13 5.16 内置差分输出电阻（Ror） 13 5.17 静态电源电流（IDp） 5.18 关断电源电流（IDDz） 15 动态参数测试 6.1 输入电容（Cr）和输出电容（Co） 16 6.2 动态电源电流（IDDA） 18 6.3 最高工作频率（fMAx） 18 6.4 最低工作频率（fMIN） 19 6.5 最大数据率（DRMAx） 20 6.6 输出由低电平到高电平传输延迟时间（tpLH） 20 6.7 输出由高电平到低电平传输延迟时间（tPHL） 22 6.8 输出由高阻态到高电平传输延迟时间（tpZH） 22 6.9 输出由高阻态到低电平传输延迟时间（tpzL） 24 6.10 输出由高电平到高阻态传输延迟时间（tpHz） 24 1 GB/T35007—2018 6.11 输出由低电平到高阻态传输延迟时间（tplz） 25 6.12 输出由低电平到高电平转换时间（tTLH） 25 6.13 输出由高电平到低电平转换时间（tTHI.） 27 6.14 脉冲时滞（tskp） 27 6.15 通道间时滞（tsko） 28 6.16 眼图高度（e） 28 6.17 眼图宽度（ew） 6.18 确定性抖动(D) 30 6.19 随机抖动(R） 30 6.20 总抖动（J） 31 附录A（资料性附录） 眼图测试对仪器的要求 32