ICS 77.120.10 H 12 DB34 安 徽 省 地 方 标 准 DB 34/T 3082—2018 方解石中钙、镁、硅、铁、铝、锰、钾含量 的测定 X 射线荧光光谱法 Determination of calcium, magnesium, silicon, iron, aluminum, manganese and potassium in calcite by X ray fluorescence spectrometry 文稿版次选择 2018 - 04 - 16 发布 安徽省质量技术监督局 2018 - 05 - 16 实施 发 布 DB34/T 3082—2018 前 言 本标准按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本标准由国家非金属矿深加工产品质量监督检验中心（池州市产品质量监督检验所）提出。 本标准由安徽省粉体材料标准化技术委员会归口。 本标准起草单位：国家非金属矿深加工产品质量监督检验中心(池州市产品质量监督检验所)、安 徽国泰众信检测技术有限公司、安徽新涛新材料科技有限公司、池州学院。 本标准主要起草人：金小龙、赵丽娟、管伟、李惠、孙静、汪新、陈洪周、刘志宏。 I DB34/T 3082—2018 方解石中钙、镁、硅、铁、铝、锰、钾含量的测定 X 射线荧光光谱法 1 范围 本标准规定了X射线荧光光谱法测定方解石中钙、镁、硅、铁、铝、锰、钾含量的方法。 本标准适用于方解石中钙、镁、硅、铁、铝、锰、钾含量的测定，测定范围见表1。 表1 元素（以氧化物计） 2 方法的测定范围 测定范围（质量分数） /％ CaO 48.69～55.43 MgO 0.22～5.40 SiO2 0.13～2.92 Fe2O3 0.035～0.45 Al2O3 0.045～0.77 MnO 0.0039～0.014 K2O 0.0076～0.28 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 2007.2 散装矿产品取样、制样通则 手工制样方法 GB/T 6682 分析实验室用水规格和试验方法 3 原理 用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂将干燥后的试样熔融制备成样片，采用波长色散型 X 射线荧 光光谱仪测量样片中待测元素的荧光强度。根据标准物质中元素含量与其荧光净强度之间的定量关系， 建立标准曲线，得出待测元素氧化物含量。 4 4.1 4.2 4.3 4.4 试剂 除非另有说明，本方法所用试剂均为分析纯，水为 GB/T 6682 规定的三级水。 无水四硼酸锂和偏硼酸锂（2:1）混合熔剂，优级纯，700℃灼烧 4 h 后，在干燥器中冷却备用。 脱模剂：碘化铵溶液（200 g/L），称量 20 g 碘化铵溶于水中，稀释至 100 mL。储存于棕色瓶中。 混合气体：90％的氩气和 10％的甲烷。 1 DB34/T 3082—2018 4.5 有证标准物质：各元素至少应有 6 组标准物质，其含量应有一定的间隔，并覆盖待测元素的测定 范围，可参考使用标准物质氧化物含量范围见附录 A 表 A.1。 5 仪器 5.1 5.2 5.3 5.4 5.5 5.6 5.7 波长色散 X 射线荧光光谱仪。 熔样炉：自动火焰熔样炉或高频电感熔样炉，温度不低于 1100℃，温度可控，温度精度 ± 15℃。 高温炉：最高温度 1100℃，温度精度 ±15℃。 烘箱：可控温度 105℃±5℃。 电子天平：精度为 0.0001 g。 熔样器皿：铂合金坩埚(95％Pt＋5％Au)。 铂合金铸模(95％Pt＋5％Au)。铸模底面内壁平整光滑，厚度约 1 mm。 注：熔样器皿和铸模可合二为一。若试样在坩埚中熔融后直接成型，则要求坩埚底面内壁平整光滑。铸模制成的样 片能够满足仪器测定要求。 6 试验方法 6.1 样品制备 6.1.1 6.1.2 6.2 按照 GB/T 2007.2 给出的规定制备，样品通过 0.125 mm 分析筛。 样品预先在 105℃ ±5℃干燥 2 h，置于干燥器中冷却至室温备用。 熔融样片的制备 6.2.1 试样片的制备 准确称取 0.700 g 样品，7.000 g 混合熔剂（4.2）于熔样器皿（5.6）中，均精确至 0.0001 g， 充分混合均匀后加入 0.2 mL 脱模剂（4.3）。将称量好试样的熔样器皿放入预先升温至 1000℃的熔样 炉（5.2）中，当温度达到 1000℃时熔融 10 min。将熔融物倒入铸模（5.7），铸模应在 1000℃熔样 炉内保温至少 2 min，制备成试样片。 注1：试样片不应含有不熔物、结晶或气泡，将试样片保存于干燥器中。 注2：当熔样器皿和铸模合二为一时，将熔融物取出，摇动去除气泡，放置冷却制备成试样片。 6.2.2 标准样片的制备 按 6.2.1 的要求制备标准样片。 6.3 6.3.1 测量 仪器条件 将波长色散 X 射线荧光光谱仪预热使其稳定。根据 X 射线荧光光谱仪的型号选定工作参数，可参 考使用附录A 表A.2 仪器测量条件。 6.3.2 标准曲线的建立 按 6.3.1 的要求测量标准样片，根据标准物质中各元素标准值和标准样片的 X 射线荧光净强度之 间的定量关系，建立标准曲线，相关系数大于 0.99。 2 DB34/T 3082—2018 6.3.3 仪器漂移校正 选择标准样品进行仪器漂移校正。当更换混合气体（4.4）、更换或添加仪器内部冷却循环水时， 必须进行漂移校正。 6.3.4 试样片测定 按 6.3.1 仪器条件，测量试样片中各元素特征谱线的 X 射线荧光净强度。对同一试样片平行测定 3 次。 7 结果 测量试样片中各元素特征谱线的 X 射线荧光净强度，得出各元素氧化物的含量。取平行测定结果 的算术平均值作为测定结果，含量在 1％及以上时，结果表示到小数点后 2 位；含量在 1％以下时， 结果表示到 2 位有效数字。 8 精密度 在重复性条件下获得的三次独立测定结果的相对偏差不大于 10％。 3 DB34/T 3082—2018 AA 附 录 A （资料性附录） 标准物质的选择、X 射线荧光光谱仪测量条件 标准物质与 X 射线荧光光谱仪测量条件分别见表A.1、表A.2： 表A.1 标准物质的选择 质量分数 标准物质元素含量范围（以氧化物计） /％ CaO 48.69～56.02 MgO 0～5.40 SiO2 0～2.92 Fe2O3 0～0.45 Al2O3 0～0.77 MnO 0～0.014 K2O 0～0.28 表A.2 X 射线荧光光谱仪测量条件 光管电压 光管电流 /kV /mA 流气计数器 50 40 20.63 流气计数器 30 100 PET 108.99 流气计数器 30 100 Kα1 LiF200 57.53 闪烁计数器 60 50 Al Kα1 PET 144.68 流气计数器 30 100 Mn Kα1 LiF200 62.97 闪烁计数器 60 50 K Kα1 LiF200 136.64 流气计数器 50 60 峰值（2θ） 元素 分析谱线 晶体 Ca Kα1 LiF200 113.09 Mg Kα1 XS-55 Si Kα1 Fe /° 探测器 _________________________________ 4 干扰谱线 Br Lα1 Mn Kβ1