(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202211138972.8
(22)申请日 2022.09.19
(71)申请人 江苏鑫缘医疗科技有限公司
地址 226600 江苏省南 通市海安经济技 术
开发区鑫来路69号
(72)发明人 吉冠 吴华栋 于柠华 杜春
杨巧凤
(74)专利代理 机构 武汉华强专利代理事务所
(普通合伙) 42237
专利代理师 康晨
(51)Int.Cl.
G06T 7/00(2017.01)
G06N 3/04(2006.01)
G06N 3/08(2006.01)
G06T 7/11(2017.01)G06T 7/136(2017.01)
G06V 10/44(2022.01)
G06V 10/764(2022.01)
G06V 10/82(2022.01)
(54)发明名称
一种卫生口罩缺陷识别方法
(57)摘要
本发明涉及口罩缺陷识别技术领域, 具体涉
及一种卫生口罩缺陷识别方法, 该方法包括: 获
取口罩灰度图像, 并提取直线段, 根据灰度特征
计算直线段的褶皱值, 将褶皱值大于阈值的直线
段记为褶皱线段, 将共线的褶皱线段记为褶皱直
线, 通过褶皱直线包含的褶皱线段数量判断口罩
是否存在耳带缺失的缺陷; 获取鼻梁 条区域的线
段长度, 根据所述线 段长度和线段阈值判断口罩
是否存在鼻梁 条缺失以及鼻梁条短小的缺陷; 利
用图像细化对 耳带区域进行处理得到耳带线, 根
据耳带线上各像素点的邻域内也属于耳带线的
邻域像素点数量, 判断口罩是否存在耳带结缺
陷。 本发明能够准确识别口罩的缺陷, 不受主观
因素的影响, 能够保证产品的质量。
权利要求书2页 说明书7页 附图1页
CN 115272299 A
2022.11.01
CN 115272299 A
1.一种卫 生口罩缺陷识别方法, 其特 征在于, 该 方法包括以下步骤:
获取口罩灰度图像, 并提取口罩灰度图像上的直线记为待分析直线; 计算各待分析直
线上像素点的灰度值均值得到第一灰度均值; 分别将过待分析直线上各像素点且与待分析
直线垂直的线记为各像素点对应的肢线; 分别计算待分析直线上各像素点两侧与其对应的
肢线相交的像素点灰度值的均值, 得到第二灰度均值和第三灰度均值; 根据所述第一、 第
二、 第三灰度均值, 计算待分析直线的褶皱值;
设定褶皱阈值, 将褶皱值大于褶皱阈值的待分析直线记为褶皱线段; 获取各褶皱线段
所在直线的直线方程, 根据各褶皱线段的直线方程对应的斜率和截距计算两条褶皱线段之
间的参数偏置值; 将参数偏置值小于参数偏置阈值的褶皱线段记为共线褶皱线段; 若没有
或者只存在两条褶皱线段为同一条直线的共线褶皱线段, 则口罩具有耳 带缺失的缺陷;
若大于两条褶皱线段为同一条直线的共线褶皱线段, 则获取在同一条直线上距离最近
的两个共线褶皱线段端点; 根据所述端点确定初始生长点, 并利用区域生长算法得到褶皱
区域; 计算所有共线褶皱线段上像素点的灰度值均值, 利用所述灰度值均值对褶皱区域像
素点像素值重新赋值后, 进行阈值分割得到鼻梁条区域;
提取鼻梁条区域内的直线段, 若所述直线段长度小于第一线段阈值, 则口罩具有鼻梁
条缺失的缺陷, 若所述 直线段长度小于第二线段阈值, 则口罩具有鼻梁条短小的缺陷。
2.根据权利要求1所述的一种卫生口罩缺陷识别方法, 其特征在于, 所述待分析直线和
鼻梁条区域内的直线段均是利用霍夫变换直线检测进行提取的。
3.根据权利要求1所述的一种卫生口罩缺陷识别方法, 其特征在于, 所述褶皱值的获取
方法具体为:
其中,
表示待分析直线的褶皱值,
表示待分析直线上像素点的灰度值均值, p表示口
罩灰度图像上像素点灰度值的中值,
和
分别表示待分析直线上各像 素点两侧与其对应
的肢线相交的像素点灰度值的均值。
4.根据权利要求1所述的一种卫生口罩缺陷识别方法, 其特征在于, 所述参数偏置值的
获取方法具体为:
其中,
表示褶皱线段i和褶皱线段j之间的参数偏置值,
和
分别表示褶皱线
段i所在直线的直线方程对应的斜率和截距,
和
分别表示褶 皱线段j所在直线的直线方
程对应的斜 率和截距。
5.根据权利要求1所述的一种卫生口罩缺陷识别方法, 其特征在于, 所述根据 所述端点
确定初始生长点, 并利用区域 生长算法得到褶皱区域具体为:
连接所述两个共线褶皱线段端点得到耳带线段, 计算所述耳带线段上像素点的灰度均
值得到褶皱门限; 分别获取距离所述两个共线褶皱线段端点竖直上方和竖直下方预设长度
的像素点, 记为初始生长点; 设置生长规则为: 像素点的灰度值大于褶皱门限, 且像素点之权 利 要 求 书 1/2 页
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2间的灰度值差值小于预设阈值; 根据初始生长点和生长规则利用区域生长算法得到褶皱区
域。
6.根据权利要求5所述的一种卫生口罩缺陷识别方法, 其特征在于, 所述预设长度的获
取方法为:
获取共线褶皱线段所在直线的直线方程对应的截距参数, 将共线褶皱线段所属的同一
条直线称作褶皱直线, 计算在褶皱直线上所有共线褶皱线段对应的截距参数 的均值, 根据
预设数量的褶皱直线对应的截距参数均值的差值得到预设长度。
7.根据权利要求1所述的一种卫生口罩缺陷识别方法, 其特征在于, 所述利用所述灰度
值均值对褶皱区域像素点像素值重新赋值后还 包括: 进行阈值分割得到耳 带区域。
8.根据权利要求7 所述的一种卫 生口罩缺陷识别方法, 其特 征在于, 所述方法还 包括:
利用聚类算法对耳带区域进行分类得到左耳带类别和右耳带类别; 将同一类别内的耳
带区域进 行合并后, 利用图像细化分别得到左耳带线和右耳带线; 分别获取左、 右耳带线 上
各像素点八邻域内的邻域像素点, 若大于预设数量的各像素点对应的邻域像素点属于左、
右耳带线, 则口罩具有耳 带结的缺陷。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 一种卫生口罩缺陷识别方法
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