(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211169832.7 (22)申请日 2022.09.26 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115294314 A (43)申请公布日 2022.11.04 (73)专利权人 南通蘅田电子科技有限公司 地址 226000 江苏省南 通市如东县袁庄镇 振兴路2号 (72)发明人 杜坤香　 (51)Int.Cl. G06V 10/10(2022.01) G06V 10/764(2022.01) G06T 7/00(2017.01) G06T 7/136(2017.01) G06T 7/66(2017.01)(56)对比文件 范为福等.基 于局部熵的织物 疵点检测. 《中 原工学院学报》 .20 07,(第05期),16-19. 李冰等.基 于自适应结构元的形态学在水 下 焊缝图像去噪中的应用. 《材 料科学与工艺》 .2007,第14卷第181-183页. 审查员 李颖 (54)发明名称 一种电子元器件表面 缺陷识别方法 (57)摘要 本发明涉及数据处理技术领域， 具体涉及一 种电子元器件表面缺陷识别方法， 该方法获取待 识别图像； 将待识别图像划分为多个图像区块， 筛选出待调整区块拼接为合并区块； 获取待调整 区块的整体趋势方向； 获取待调整区块内每个像 素点的离散度方向， 基于离散度方向将所有像素 点分类； 获取每个像素点的离散度； 筛选出待处 理像素点， 对于同一类的待处理像素点， 依据每 个待处理像素点的离散度方向、 离散度以及该类 的待处理像素点总数量获取该类的自适应结构 元； 对每个待处理像素点利用对应的自适应结构 元进行形态学闭运算去除噪声， 得到去噪图像， 通过对去噪图像进行阈值分割得到缺陷识别结 果。 本发明能够使 图像去噪的效果更好， 使缺陷 结果更加准确。 权利要求书2页 说明书8页 附图1页 CN 115294314 B 2022.12.30 CN 115294314 B 1.一种电子元器件表面 缺陷识别方法， 其特 征在于， 该 方法包括以下步骤： 采集印刷电路板 图像并进行图像预处理， 获取待识别图像； 所述预处理包括去 除背景 和灰度化； 将所述待识别图像划分为多个图像区块， 基于每个图像区块的灰度值获取对应图像区 块的调整必要性， 将大于预设的调整阈值的调整必要性对应的图像区块作为待调整区块； 将所有待调整区块 拼接为合并区块； 基于所述待调整区块内每个待调 整区块的质心获取待调整区块的整体趋势方向； 根据 所述整体趋势方向获取所述待调整区块内每个像素点的离散度方向， 基于所述离散度方向 将所有像素点分类； 根据所述待调整区块内每个像素点邻域的分布信息获取每个像素点的 离散度； 基于所述离散度的大小筛选出待处理像素点， 对于同一类的待处理像素点， 依据每个 待处理像素点的离散度方向、 离散度以及该类的待处理像素点总数量获取该类的自适应结 构元； 对每个待处理像素点利用对应的自适应结构元进行形态学闭运算去除噪声， 得到去噪 图像， 通过对所述去噪图像进行阈值分割得到缺陷识别结果； 所述根据所述整体趋势方向获取 所述待调整区块内每 个像素点的离 散度方向， 包括： 以预设大小的窗口将在所述合并区块内滑动， 分别计算整体趋势方向与窗口内的四个 预设方向的差异， 选取差异 最小的预设方向对应的方向范围对应的像素点作为窗口中心像 素点的标记点； 计算中心像素点与每个标记点的灰度差作为对应方向上的方向性离散度， 以最小的方 向性离散度的方向作为中心像素点的离 散度方向； 所述基于所述离 散度方向将所有像素点分类， 包括： 设置方向差异阈值， 对于相邻两个窗口， 计算上一窗口和下一窗口之间的离散度方向 的差异值， 若小于所述方向差异阈值， 该相 邻两个窗口的中心像素点为一类， 继续进 行下一 相邻窗口的中心像素点的判断， 直到不小于所述方向差异阈值， 对应的窗口的中心像素点 为另一类， 依次计算， 直至窗口遍历合并区块； 所述离散度的获取 方法为： 由每个像素点对应的所有所述方向性离 散度的均值作为所述离 散度； 所述自适应结构元的获取 方法为： 以每类的待处理像素点对应的离散度方向对应的方向性离散度进行累加， 得到的累加 值为该类的整体离散度； 以每类的待处理像素点总 数量作为自适应结构元 的长， 以整体离 散度的预设倍数作为自适应结构元的宽， 以每类的所有待处理像素点的离散度方向均值作 为所述自适应结构元的方向。 2.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷识别方法， 其特征在于， 所述去除背 景的方法为： 通过对所述印刷电路板图像进行语义分割去除背景。 3.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷识别方法， 其特征在于， 所述调 整必 要性的获取 方法为： 对于每个图像区块， 获取每个灰度值出现的次数， 以次数与图像区块内像素点数量的 比值作为对应灰度值的出现概率， 基于所述出现概率获取图像区块的信息熵， 以所述信息权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115294314 B 2熵的归一 化结果作为所述调整必要性。 4.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷识别方法， 其特征在于， 所述整体趋 势方向的获取 方法为： 根据所有构 成合并区块中的每个待调整区块的质心坐标计算对应的方向性， 并获取所 有方向性的均值作为 合并区块的所述整体趋势方向。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115294314 B 3