ICS 77.120.01 H 60 DB34 安 徽 省 地 方 标 准 DB 34/T 2270—2014 铜阳极泥 铜、金、银、硒、铋、铅含量的 测定 波长色散 X 射线荧光光谱法 Copper anode slime — Determination of copper，gold，silver，selenium，bismuth and lead content —Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method 文稿版次选择 2014 - 12 - 29 发布 安徽省质量技术监督局 2015 - 01 - 29 实施 发 布 DB34/T 2270—2014 前 言 本标准按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。 本标准由铜陵有色金属集团股份有限公司金冠铜业分公司提出。 本标准由安徽省有色金属标准化技术委员会负责归口。 本标准主要起草单位：铜陵有色金属集团股份有限公司金冠铜业分公司。 本标准参加起草单位：铜陵有色金属集团股份有限公司稀贵金属分公司、金隆铜业有限公司、江西 自立环保科技有限公司。 本标准主要起草人：李长春、钱庆长、卜少田、孟萌萌、谢鹏、龚昌合、李新民、张永中、吴智洋。 I DB34/T 2270—2014 铜阳极泥 铜、金、银、硒、铋、铅含量的测定 波长色散 X 射线荧光光谱法 1 范围 本标准规定了铜阳极泥中铜、金、银、硒、铋、铅含量的测定方法。 本标准适用于铜阳极泥中铜、金、银、硒、铋、铅含量的测定。 含量范围见表1。 表1 各元素的测量范围 元 2 素 测 定 范 围 Cu/％ 6.00～25.00 Au/（kg/t） 0.600～2.400 Ag/（kg/t） 33.000～106.000 Se/％ 2.00～5.00 Bi/％ 1.00～12.50 Pb/％ 13.50～36.00 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 23607 铜阳极泥化学分析方法 砷、铋、铁、镍、铅、锑、硒、碲量的测定 电感耦合等离子 体原子发射光谱法 YS/T 745.1 铜阳极泥化学分析方法 第1部分:铜量的测定 碘量法 YS/T 745.2 铜阳极泥化学分析方法 第2部分:金量和银量的测定 火试金重量法 3 方法提要 铜阳极泥粉末采用粉末压片法制样，先测量待测元素的特征 X 射线荧光强度，同时在相应的背景 角度处测量背景强度并自动扣除，绘制荧光强度对浓度的校准曲线，然后根据分析试样中元素谱线的强 度求出元素含量。 4 仪器和材料 4.1 波长色散型 X 射线荧光光谱仪（光管功率不小于 3.5 kW），Rh 靶光管。 4.2 压片机，压力大于 400 kN。 4.3 氩气-甲烷混合气体（90％Ar+10％CH4）,要求 Ar 和 CH4 的纯度均大于 99.999％。 注：使用氩气-甲烷混合气体为 X 射线荧光光谱仪流气正比计数器专用气体时，应置于仪器室内。当钢瓶内气体压 1 DB34/T 2270—2014 力低于 1 MPa 时，应及时更换。更换后，钢瓶应稳定 2 h 至室温后再使用。 5 试样 5.1 试样最大粒度不超过 0.074 mm。 5.2 试样在 100℃～105℃干燥 2 h，在干燥器中冷却至室温备用。 6 测定步骤 6.1 样片制备 将装满待测铜阳极泥粉末的模具（铝质或铁质，也可采用硼酸镶边垫底压片）置于压片机上，以 300 MPa 的压力压制成形，保压时间 20 s，成形后样片的厚度应不小于 2 mm，样片直径以 35 mm～40 mm 为佳，最优尺寸可根据试样盒面罩直径选择。 6.2 仪器校正 6.2.1 背景校正 测量单个背景点。 单点法净强度按公式（1）计算： I n  I P  I b ...................................... (1) 式中： In —— 分析线净强度； Ip —— 分析线峰值强度； Ib —— 分析线背景强度。 6.2.2 仪器漂移校正 通过测量监控样品校正仪器漂移。 6.3 校正曲线的绘制 6.3.1 标准校准样品 选择铜阳极泥样品并用化学法（铜采用 YS/T 745.1，金、银采用 YS/T 745.2，硒、铋、铅采用 GB/T 23607）定值作为标准样品绘制校准曲线，每个元素都应有一个具有足够的含量范围又有一定梯度的标 准系列（不少于 5 个）。 6.3.2 测量条件 各元素特征谱线的测量条件通过优化获得，通常须测试 3～4 个不同浓度的样品。 不同型号仪器应选择优化的测量条件。 推荐测量条件参见表2。 2 DB34/T 2270—2014 表2 推荐测量条件（单点扣背景） 待测 测量 光管电压 光管电流 峰分析时 扣背景角 背景分析 元素 谱线 /kV /mA 间/s 度/º 时间/s Cu Ka 45.030 LiF SC 40 10 15 43.000 10 Au La 36.950 LiF SC 40 75 20 36.300 10 Ag Ka 16.020 LiF SC 40 75 20 14.800 10 Se Ka 31.880 LiF SC 40 70 20 32.400 10 Bi La 33.010 LiF SC 40 65 15 32.450 10 Pb Lb1 28.230 LiF SC 40 25 15 29.700 10 2θ角度/º 分析 晶体 探测器 6.3.3 绘制标准校准曲线 采用表2 推荐测量条件，设置标准校准曲线名称，输入标准样品相应元素标准值，测量标准样品中 元素的 X 射线荧光强度，绘制标准校准曲线，得到强度与浓度的一次方程或二次方程，求出校准曲线 常数 b、c 值或 a、b、c 值。 6.4 测量 6.4.1 将 X 射线荧光光谱仪（4.1）预热使其稳定。 6.4.2 测量监控样品：设置监控样品名，测量监控样品中分析元素的 X 射线荧光强度，对仪器进行漂 移校正。 6.4.3 测量未知样品：选用标准校准曲线（6.3.3），启动未知样品分析程序，测量未知样品中元素的 X 射线荧光强度。 6.5 重复测定两次 按照 6.1 到 6.4 步骤执行。 7 分析结果的计算 根据所测未知样品的X射线荧光强度，按照公式（2）计算未知样品中相应元素含量，自动输出测量 结果。 wi = aIi2 + bIi + c ................................... (2) 式中： wi —— 试样中元素 i 的质量分数，数值以％表示； Ii —— 元素 i 的 X 射线荧光强度，单位为千计数每秒（kcps）； a、b、c —— 校正曲线常数。 8 精密度 8.1 重复性 在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果 的绝对差值不超过重复性限（r），超过重复性限（r）的情况不超过 5％。 重复性限（r）按表3 数据采用线性内插法求得。 3 DB34/T 2270—2014 表3 重复性 wCu/% 6.02 9.80 12.17 14.38 24.72 rCu/ % 0.18 0.20 0.21 0.22 0.25 wSe/% 2.08 2.75 3.75 4.27 5.06 rSe/ % 0.12 0.17 0.20 0.21 0.24 wBi/% 1.24 6.67 8.54 10.56 12.42 rBi/ % 0.13 0.20 0.23 0.27 0.29 wPb/% 13.91 22.83 25.41 27.55 36.05 rPb/ % 0.32 0.40 0.42 0.44 0.52 wAu/（kg/t） 0.630 0.921 1.230 1.418 2.361 rAu/（kg/t） 0.018 0.022 0.028 0.032 0.052 wAg/（kg/t） 33.869 42.307 52.072 67.770 105.464 rAg/（kg/t） 0.954 1.451 1.540 1.824 2.740 8.2 再现性 在再现性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果 的绝对差值不超过再现性限（R），超过再现性限（R）的情况不超过 5％。 再现性限（R）按表4 数据采用线性内插法求得。 表4 再现性 wCu/% 6.02 9.80 12.17 14.38 24.72 RCu/ % 0.21 0.24 0.26 0.28 0.38 wSe/% 2.08 2.75 3.75 4.27 5.06 RSe/ % 0.15 0.21 0.24 0.26 0.28 wBi/% 1.24 6.67 8.54 10.56 12.42 RBi/ % 0.14 0.24 0.27 0.30 0.54 wPb/% 13.91 22.83 25.41 27.55 36.05 RPb/ % 0.34 0.42 0.47 0.50 0.62 wAu/（kg/t） 0.630 0.921 1.230 1.418 2.361 RAu/（kg/t） 0.019 0.023 0.035 0.039 0.056 wAg/（kg/t） 33.869 42.307 52.072 67.770 105.464 RAg/（kg/t） 1.201 1.470 1.770 1.863 2.770 9 试验报告 试验报告应包含下列信息： a) 试样； b) 使用的标准编号； c) 测试实验室名称和地址； d) 试验报告签发日期； e) 分析结果及其表述； 4 DB34/T 2270—2014 f) 测定中观察到的异常现象。 _________________________________ 5